技術(shù)編號：6559306
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及微電子領(lǐng)域的非接觸式ic卡技術(shù)，特別是用于檢測第 二代居民身份證非接觸式ic卡的檢測方法及其裝置。背景技術(shù)第二代居民身份證采用的是非接觸式IC卡，基于IS0/IEC 14443 Type-B鄰近式非接觸式IC卡標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)。在IS0/IEC 14443標(biāo)準(zhǔn) 中定義了非接觸式IC卡的物理特性和電特性，其中的電特性包括場 強(qiáng)、載波頻率、調(diào)制深度等指標(biāo)。這些指標(biāo)要求非接觸式IC卡應(yīng)能在 1.5A/m-7.5A/m的磁場強(qiáng)度，13.553 - 13. 5...
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