技術(shù)編號(hào)：6549573
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。一種面向集成電路電容提取的多介質(zhì)隨機(jī)行走計(jì)算方法及系統(tǒng)，其包括，讀取存儲(chǔ)設(shè)備中所存儲(chǔ)的集成電路的介質(zhì)層信息；根據(jù)所讀取的集成電路的介質(zhì)層信息，計(jì)算包含多層介質(zhì)層的立方體轉(zhuǎn)移區(qū)域的轉(zhuǎn)移概率表與權(quán)重向量表；根據(jù)所計(jì)算出的包含多層介質(zhì)層的立方體轉(zhuǎn)移區(qū)域的轉(zhuǎn)移概率表與權(quán)重向量表，對(duì)集成電路的多層介質(zhì)互連結(jié)構(gòu)進(jìn)行電容參數(shù)提取。該方法及系統(tǒng)可以減少每條隨機(jī)行走路徑中包含的跳轉(zhuǎn)次數(shù)，進(jìn)而縮短電容提取的計(jì)算時(shí)間，在增加內(nèi)存開銷的基礎(chǔ)上可獲得幾倍到幾十倍不等的加速。專利說明...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請(qǐng)注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。