技術(shù)編號：6543054
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明公開了。其特征在于包括如下步驟首先利用彩色圖像中絕緣子的顏色呈現(xiàn)聚類的特性，通過在Lab顏色空間中利用K均值聚類算法將絕緣子從復雜的背景圖像中初步分割出來；然后利用絕緣子在圖像形成的長條對稱特性，采用基于主成分分析的連通區(qū)域判決方法定位出絕緣子的具體位置；在此基礎(chǔ)上，通過統(tǒng)計分析絕緣子相鄰盤片之間的距離識別出絕緣子缺陷區(qū)域。該方法受不同光線和復雜背景的影響較小，提高了絕緣子缺陷檢測的準確性和魯棒性，具有較高的工程實用價值。專利說明[0001]本發(fā)明涉...
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