技術(shù)編號:6520174
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供一種適用于FPGA的可靠性評估方法和裝置,包括對于每個(gè)待評估的線路故障,識別它所對應(yīng)的敏化輸入向量的集合,所述敏化輸入向量是可激活所述待評估的線路故障的輸入向量,所述線路故障為線路上的固定v故障,v為邏輯值。進(jìn)一步地,所述可靠性評估方法還可以包括對于每個(gè)待評估的線路故障,識別它所對應(yīng)的失效輸入向量的集合,所述失效輸入向量是故障能夠傳播到電路輸出,造成錯(cuò)誤輸出邏輯值的輸入向量。其中,采用邏輯值X代表0或1,精簡輸入向量。本發(fā)明能夠快速準(zhǔn)確地得出FP...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。
請注意,此類技術(shù)沒有源代碼,用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。