技術(shù)編號：6519888
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種，包括采用CCD照相機(jī)采集單晶硅生長過程中的邊緣輪廓線圖像，對該邊緣輪廓線圖像進(jìn)行預(yù)處理，構(gòu)建關(guān)于直線角度的過完備字典，用LS-SVR的對偶優(yōu)化模型求解出與直線角度所對應(yīng)的稀疏表示系數(shù)，求出直線的角度；引入稀疏約束項(xiàng)來優(yōu)化原始對偶優(yōu)化模型以提高直線角度的精確度；構(gòu)建一個(gè)直線偏移量的過完備字典，再根據(jù)對偶優(yōu)化模型解出直線的偏移量。本發(fā)明能在樣本點(diǎn)很少的情況下擬合直線，很好的解決高維數(shù)據(jù)，在最小二乘支持向量機(jī)的原始對偶優(yōu)化模型中加入了稀疏約束項(xiàng)...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。