技術(shù)編號：6519713
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種用于包括多個(gè)函數(shù)測試模塊的單元測試方法及裝置，為解決現(xiàn)有的單元測試中無法實(shí)現(xiàn)函數(shù)調(diào)用語句中函數(shù)錯(cuò)誤的測試而設(shè)計(jì)。所述方法包括構(gòu)建測試模塊，所述測試模塊包括兩個(gè)以上有調(diào)用關(guān)系的函數(shù)；根據(jù)測試模塊內(nèi)程序的邏輯關(guān)系及函數(shù)間的調(diào)用關(guān)系形成若干條函數(shù)間路徑；為每一條所述函數(shù)間路徑選擇測試用例進(jìn)行測試。所述方法及裝置在單元測試階段即可及時(shí)的發(fā)現(xiàn)函數(shù)調(diào)用中的錯(cuò)誤，避免了將函數(shù)調(diào)用的錯(cuò)誤延遲到集成測試中，進(jìn)而及時(shí)的對軟件中函數(shù)調(diào)用的錯(cuò)誤進(jìn)行修正，達(dá)到了降低...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。