技術編號：6512494
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開了，包括如下步驟1）收集圖像樣本作為訓練集；2）尋找大數(shù)據(jù)圖像分類最優(yōu)的投影矩陣；3）對無標注數(shù)據(jù)進行投影；4）對投影后的樣本采用最小距離分類器分類。利用本發(fā)明提出的方法能夠有效利用樣本分布的局部幾何信息，并提取分類的鑒別信息，減少大數(shù)據(jù)圖像分類對人工標注樣本的依賴，有效減少訓練過程中的存儲成本，其分類準確度高于有代表性的基于線性判別分析的圖像分類方法。專利說明[0001]本發(fā)明涉及一種模式識別與人工智能中的圖像分類技術，特別涉及，該方法是一種監(jiān)...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術沒有源代碼，用于學習研究技術思路。