技術編號：6512030
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及高通量基因測序領域，提供了一種比較多個測序圖像清晰度的方法和系統(tǒng)及自動聚焦控制方法。所述比較多個測序圖像清晰度的方法通過對多個測序圖像分別進行諧波分析處理，然后根據(jù)諧波分析處理圖的紋理特征分別擬合出閉合曲線，并根據(jù)閉合曲線得到各閉合曲線對應的圖形與其對應的測序圖像之間的面積比值，進而通過比較面積比值的大小確定清晰度最高的測序圖像。本發(fā)明的方法和系統(tǒng)相對于現(xiàn)有技術中具有量化精度更高的優(yōu)點；此外，本發(fā)明還基于上述清晰度比較方法提供了一種自動聚焦控制方...
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