技術(shù)編號：6506946
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及。本方法首先提取圖像粗糙度特征圖，進行二值化特征處理，合并屬于同一目標區(qū)域，分別計算全局顯著性、局部顯著性和位置顯著性，以此計算紋理顯著性獲得紋理顯著圖，最后利用紋理顯著圖進行圖像目標檢測。其核心內(nèi)容是利用微光圖像目標紋理與背景差異較大的特點，通過紋理顯著性進行目標檢測。利用本發(fā)明方法探測微光圖像目標，目標輪廓性好、擊中率高。專利說明 [0001] 本發(fā)明屬于圖像處理，涉及一種基于紋理顯著性的微光圖像目標檢測方 法。 背景技術(shù) [000...
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