技術(shù)編號：6504658
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明公開了，測試流程包括1）采集調(diào)試樣品芯片的模擬值和工藝特性參數(shù)，建立與所采集的數(shù)據(jù)最匹配的函數(shù)模型；2）根據(jù)置信區(qū)間確定量產(chǎn)測試中建模需要采集的樣品數(shù)；3）在量產(chǎn)測試時，采集步驟2）確定的樣品數(shù)的芯片的數(shù)據(jù)，通過數(shù)學(xué)優(yōu)化方法，建立產(chǎn)品虛擬化電特性優(yōu)化測試最佳函數(shù)；4）參照步驟3）建立的最佳函數(shù)，完成所有芯片的虛擬化電特性優(yōu)化量產(chǎn)測試。本發(fā)明通過建立產(chǎn)品電特性優(yōu)化測試（TRIM）數(shù)據(jù)模型，尋找數(shù)據(jù)的最佳函數(shù)匹配，在量產(chǎn)測試程序中參照該函數(shù)完成所有芯片的...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。