技術編號：6502039
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開了一種基于MMTD的SIFT圖像特征提取方法，該方法提高了圖像特征點提取準確率，屬于圖像處理中的特征提取的研究領域。傳統(tǒng)的采用固定閾值篩選特征點的SIFT算法，很容易造成漏檢或者錯檢特征點，導致后續(xù)圖像分割和圖像識別的精度較差。針對這樣的問題，本發(fā)明的方法根據(jù)圖像灰度化后的矩陣，運用MMTD求出每個候選特征點8鄰域內(nèi)的距離比例函數(shù)，利用迭代化的方法自適應地確定閾值，以此對特征點進行篩選，減少特征點漏檢或者錯檢的情況，最終達到提高后續(xù)圖像分割、圖像...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術沒有源代碼，用于學習研究技術思路。