技術(shù)編號：6502029
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種和系統(tǒng)，是基于在一個參考時間點和后來的一個時間點樣品圖像中邊緣的比較，通過補償照相機和樣品間的位移，來提高識別外來物體碎片的成功幾率，補償?shù)姆椒òǚ艑捦鈦砦矬w碎片邊緣和侵蝕圖像數(shù)據(jù)，還包括放寬外來物體碎片的邊緣特征。專利說明[0001]本發(fā)明是關(guān)于圖像中外來事物的識別，尤其是基于識別樣品圖像中的邊緣來識別被檢測樣品中的外來物體碎片。背景技術(shù)[0002]如本發(fā)明中所述的，外來物體碎片(FOD)指的是在被檢測樣品上可能導(dǎo)致其損壞的外來碎片或者其...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。