技術(shù)編號(hào)：6492868
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明實(shí)施例提供一種電場校驗(yàn)方法、裝置及電子設(shè)備，涉及電子設(shè)備，可以對(duì)感應(yīng)電場進(jìn)行校準(zhǔn)，降低感應(yīng)電場的測量誤差。電場校驗(yàn)方法，應(yīng)用于一電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括至少兩個(gè)傳感器，包括通過第一傳感器獲取第一數(shù)據(jù)，其中，所述第一數(shù)據(jù)用于指示操作體與第一電極板的距離；通過第二傳感器獲取第二數(shù)據(jù)，其中，所述第二數(shù)據(jù)用于指示所述操作體與所述第一電極板的電場；當(dāng)所述第二數(shù)據(jù)與所述第一數(shù)據(jù)不對(duì)應(yīng)時(shí)，根據(jù)所述第一數(shù)據(jù)校準(zhǔn)所述第二數(shù)據(jù)。專利說明一種電場校驗(yàn)方法、裝置及電子設(shè)備...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。