技術(shù)編號：6481421
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于計算機，具體涉及一種消除存儲器件總劑量 效應(yīng)的數(shù)據(jù)取反方法。 現(xiàn)有技術(shù)空間輻射環(huán)境中存在大量電子，會導(dǎo)致存儲器件發(fā)生總劑量效 應(yīng)，嚴(yán)重影響航天器的可靠性及在軌壽命。總劑量效應(yīng)是指輻射在半 導(dǎo)體器件內(nèi)部不同界面附近產(chǎn)生了界面態(tài)電荷和在氧化層中產(chǎn)生了 陷阱電荷，從而導(dǎo)致半導(dǎo)體器件的參數(shù)(主要是閾值電壓)漂移，進(jìn) 而引發(fā)器件故障。應(yīng)對總劑量效應(yīng)的方法主要有器件加固和工藝加固 兩種。器件加固主要采取備份冗余和冷備份兩種方法。備份冗余是指 在系統(tǒng)中設(shè)置一些...
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