技術編號：6476239
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明一般涉及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)和調試(debugging)，更具體地，涉及在調試過程中數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的控制。背景技術 調試系統(tǒng)在許多數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)中，例如，在單片系統(tǒng)(system onchipsSoC)中，被應用來提供系統(tǒng)組件的訪問和可見性。因此，在數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)中，這些調試系統(tǒng)可用于檢測和糾正缺陷。然而，目前可用的許多調試系統(tǒng)都過于強制性(obtrusive)，因為它們顯著地影響了數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的系統(tǒng)狀態(tài)，這將降低準確地調試系統(tǒng)的能力。此外，一些調試系統(tǒng)還需要數(shù)據(jù)...
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