技術(shù)編號：64584
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明涉及一種用于原子力顯微鏡的掃描樣品電加熱裝置，屬于增加原子力顯微鏡所用掃描樣品電加熱裝置的技術(shù)。 背景技術(shù)目前，原子力顯微鏡越來越廣泛地應(yīng)用于各種材料表面特性的研究中，而對于需要研究樣品表面特性與溫度變化關(guān)系的情況下，采用常規(guī)的加熱裝置對樣品加熱后，放入原子力顯微鏡中進(jìn)行掃描不可能實現(xiàn)對不同溫度下樣品表面同一區(qū)域的AFM掃描，使這方面的研究無法開展。 發(fā)明內(nèi)容 本發(fā)明的目的在于考慮上述問題而提供一種可以實現(xiàn)不同溫度下樣品表面同一區(qū)域AFM掃描的用于原子力顯微鏡的掃描樣品電加熱裝置。 本發(fā)明解決...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。