技術(shù)編號(hào):6415691
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及高性能容錯(cuò)計(jì)算機(jī)處理器領(lǐng)域,特別是,本發(fā)明在硬件時(shí)鐘級(jí)提供冗余表決方法和裝置。本發(fā)明可用來(lái)檢測(cè)和校正計(jì)算機(jī)中的差錯(cuò),尤其是遠(yuǎn)程安裝的計(jì)算機(jī),諸如在軌道上的空間飛行器中的計(jì)算機(jī)差錯(cuò)。發(fā)明背景在地球上和空間中的自然輻射環(huán)境經(jīng)常引起計(jì)算機(jī)中使用的半導(dǎo)體器件的短期和長(zhǎng)期劣變。這種危害對(duì)于需要無(wú)故障操作的計(jì)算機(jī)是一個(gè)問(wèn)題。除了這些輻射影響,計(jì)算機(jī)芯片還由于未檢測(cè)的缺陷和隨著時(shí)間的發(fā)展產(chǎn)生的弱點(diǎn)而經(jīng)受隨機(jī)錯(cuò)誤。在半導(dǎo)體封裝物中的微量放射性材料也可能引起故障。...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
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