技術編號:6414192
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及在半導體制造設備控制系統(tǒng)中對設備單元狀態(tài)進行控制的方法,特別是這樣的在半導體制造設備控制系統(tǒng)中對設備單元狀態(tài)進行控制的方法,其中單元狀態(tài)變化監(jiān)視模塊包括在主計算機中,由此可以防止實際的單元狀態(tài)數據與存儲于主計算機中的單元狀態(tài)數據之間不一致。因而,可以明顯地提高在控制設備生產率上的整體效率。通常,通過高精度工藝來制造半導體器件。為了此高精度工藝,在半導體生產線設置高功能設備。由操作者通過控制系統(tǒng)對各設備的運行進行精心地監(jiān)視,以便可以提高生產線上的操...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。
請注意,此類技術沒有源代碼,用于學習研究技術思路。