技術(shù)編號：6405321
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明大體上講，涉及用來測試集成電路的系統(tǒng)，特別而言，涉及一種用來降低由受測試集成電路執(zhí)行邏輯的狀態(tài)轉(zhuǎn)換所導(dǎo)致的受測試集成電路中的電源噪聲的裝置。背景技術(shù) 一集成電路(IC)測試器可同時測試一組以半導(dǎo)體晶元上的管芯形式存在的IC。圖1是一方框圖，其圖解闡明了一般的IC測試器10，該測試器10通過探針卡12連接到一組相似的受測試IC器件(DUT)14上，該等受測試IC器件14可形成于一半導(dǎo)體晶元上。測試器10使用彈簧針15或其它構(gòu)件，將不同的輸入與輸出終端連...
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