技術編號：6376491
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及微處理器芯片的基于JTAG標準的調試，尤其是一種多核處理器的JTAG調試方法。背景技術隨著對處理能力和能耗的要求日趨提高，多核處理器已經成為目前高端處理器芯片的主要解決方案。然而隨著多核架構的規(guī)模增大，其設計復雜度也隨之增大，這給多核處理器的在線調試帶來了很大的挑戰(zhàn)和困難。本發(fā)明巧妙的設計了多核處理器芯片測試接口與仿真器JTAG調試接口之間的多路測試接入端口控制器，有效實現(xiàn)了對單核調試的仿真器和調試軟件的復用，僅對調試軟件增加了針對某個核的選擇和...
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