技術編號：63612
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。技術領域本發(fā)明涉及的是一種掃描隧道顯微鏡針尖刻蝕儀，特別是一種掃描隧道顯微鏡針尖自動控制刻蝕儀，屬于測試技術領域。 背景技術掃描隧道顯微鏡(STM)能獲得原子級的分辨率源自于掃描探針針尖的電子態(tài)以及針尖與樣品的相互作用。因此，人們希望能夠制備出針尖足夠尖銳以至于針尖末端僅有一個原子的理想針尖。雖然，現在技術上還沒有完全解決這個問題，但是可以從中得知兩點第一，針尖制備依然是STM實驗的中心問題之一；第二，針尖制備中針尖銳化依然是發(fā)展方向。 經文獻檢索發(fā)現，中國輕工業(yè)出版社出版(1996年12月出版)的，陳成鈞著《...
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