技術編號:6350056
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。利用偏移探測器幾何結構生成計算斷層攝影圖像的方法和設備本申請總體上涉及醫(yī)療成像技木。更具體而言,本申請?zhí)峁┝擞糜谏捎嬎銛鄬訑z影(CT)定位掃描(scout scan)圖像的方法和設備,以及CT圖像的重建和組合式χ射線和單光子發(fā)射計算斷層攝影(SPECT)成像。本申請的主題至少適用于CT成像和其他基于 X射線的成像以及組合式X射線和SPECT成像,并將具體參考它們加以描述。不過,它還可以更一般地應用于其他成像方法和其他技木,例如正電子發(fā)射斷層攝影(PET)...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。
請注意,此類技術沒有源代碼,用于學習研究技術思路。