技術(shù)編號(hào)：6307635
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及，該方法包括根據(jù)給定的膜厚標(biāo)準(zhǔn)值和標(biāo)準(zhǔn)差，建立針對(duì)檢測(cè)受控過程錯(cuò)誤和非受控過程錯(cuò)誤兩個(gè)統(tǒng)計(jì)過程控制圖，對(duì)鍍膜工藝的加工過程是否異常做兩次判定；使用針對(duì)受控過程錯(cuò)誤的控制圖對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行一次判定；如果數(shù)據(jù)一次判定正常，使用針對(duì)非受控過程的控制圖對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行二次判定，控制圖使用指數(shù)加權(quán)控制圖；如果二次數(shù)據(jù)判定正常，將經(jīng)過加權(quán)處理的數(shù)據(jù)保存；如果判定結(jié)果不正常，調(diào)整加權(quán)系數(shù)，降低歷史值權(quán)重，使用修改后的權(quán)重值重新計(jì)算數(shù)據(jù)并保存，以此降低歷史值對(duì)下次判定的影響...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。