技術(shù)編號(hào)：6244763
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體點(diǎn)式測(cè)溫系統(tǒng)，所述系統(tǒng)利用半導(dǎo)體材料在入射光波長(zhǎng)不變時(shí)其光反射率隨著溫度的變化而變化這一特性，通過測(cè)量半導(dǎo)體材料反射光的強(qiáng)弱來實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)對(duì)象進(jìn)行測(cè)溫。本發(fā)明具有高絕緣性、抗電磁干擾、抗腐蝕、防爆、防雷擊的特點(diǎn)，能在惡劣的壞境下工作；測(cè)量精度高，范圍大，反應(yīng)靈敏；溫度檢測(cè)探頭結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、尺寸小巧、安裝方便；可多機(jī)組網(wǎng)進(jìn)行檢測(cè)的特點(diǎn)。專利說明一種半導(dǎo)體點(diǎn)式測(cè)溫系統(tǒng) [0001] 本發(fā)明涉及電力設(shè)備綜合監(jiān)控領(lǐng)域使用的傳感檢測(cè)系統(tǒng)，尤其涉及...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。