技術(shù)編號(hào)：6241447
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及光學(xué)元件質(zhì)量的檢測(cè)，尤其涉及一種二維掃描型光學(xué)質(zhì)量檢測(cè)裝置。背景技術(shù)哈特曼檢測(cè)法是通過被檢透鏡的會(huì)聚光束偏離同心程度來確定被檢透鏡質(zhì)量的定量檢測(cè)方法。其主要部件是一個(gè)不透明的哈特曼光闌，利用光闌上不同位置的小孔對(duì)檢測(cè)光束進(jìn)行分割，以得到照射在被檢透鏡不同區(qū)域的子光束會(huì)聚點(diǎn)位置的差異。傳統(tǒng)的哈特曼檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)如圖1所示，光源1發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡2照明小孔光闌3，從而獲得點(diǎn)光源；小孔光闌3位于平行光管4的前焦點(diǎn)處，由小孔光闌3射出的光束經(jīng)平行光管...
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