技術(shù)編號(hào)：6240480
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種在輻照環(huán)境中電子元器件的抗輻射性能對(duì)比實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)和方法。本發(fā)明主要通過對(duì)比實(shí)驗(yàn)和每一支路單一變化量的思想實(shí)現(xiàn)，涉及對(duì)元件的實(shí)時(shí)監(jiān)控和檢測(cè)。系統(tǒng)主要包括測(cè)試和保護(hù)元件、內(nèi)外連接線和外部監(jiān)控三部分組成。本發(fā)明主要通過收集元件工作的回傳參數(shù)進(jìn)行結(jié)果對(duì)比分析，判斷元器件的工作和損壞情況。這種方法可以有效地檢測(cè)出元器件在輻射環(huán)境下的抗輻射性能，具有較強(qiáng)的操作性。專利說明 [0001]本發(fā)明公開了一種輻照環(huán)境中電子元器件的抗輻射性能對(duì)比實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)和方...
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