技術(shù)編號：6240344
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種紅外設(shè)備，具體涉及一種智能紅外探傷檢測系統(tǒng)，屬于紅外傳輸及智能檢測設(shè)備。背景技術(shù)物理中，光譜中波長自0.76至400微米的一段稱為紅外線，紅外線是不可見光線。所有高于絕對零度(一 273°C)的物質(zhì)都可以產(chǎn)生紅外線。加熱源對試件的一面進(jìn)行加熱，在同一面采用紅外攝像儀接收紅外熱圖像。如果試件中有缺陷，將阻礙熱能的傳播，造成能量積累，使缺陷部位對應(yīng)的工件表面 形成一個“高溫區(qū)”，在熱圖像中將是一個“亮區(qū)”。因此，為了采用上述技術(shù)檢測，確有必要提供...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。