技術編號：6232533
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及。該裝置主要包括光源組件、半透半反鏡、第一探測器組件、第二探測器組件和調整工裝。為了增加飛行目標表面對信號的反射率，常采用角反射器陣列形式，理想狀態(tài)是每個角反射器的回光效率都一致，這樣便于探測器的選型，并且降低后續(xù)的數據處理難度。本發(fā)明可實現角反射器的回光效率和回光一致性同時測定以及測量精度高。專利說明 [0001] 本發(fā)明屬于光學測試領域，涉及一種用于標定角反射器回光特性（包括回光效率 和回光一致性）的裝置及方法。 背景技術 [000...
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