技術(shù)編號(hào)：6232027
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種基于雙邊帶調(diào)制的光器件測(cè)量方法，屬于光器件測(cè)量、微波光子學(xué)。首先利用光雙邊帶調(diào)制方法將射頻信號(hào)調(diào)制于第一光載波信號(hào)上，生成雙邊帶調(diào)制信號(hào)；然后令雙邊帶調(diào)制信號(hào)通過待測(cè)光器件后與第二光載波信號(hào)合束，所述第二光載波信號(hào)與第一光載波信號(hào)之間存在頻率差；利用光電探測(cè)器對(duì)合束后的信號(hào)進(jìn)行拍頻，然后提取拍頻信號(hào)中+1階邊帶信號(hào)及-1階邊帶信號(hào)的幅度信息；掃描所述射頻信號(hào)的頻率，即得到待測(cè)光器件的寬帶幅頻響應(yīng)。本發(fā)明還公開了一種基于雙邊帶調(diào)制的光器件測(cè)量...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。