技術(shù)編號(hào)：6224933
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種基于壓縮感知原理的導(dǎo)體電導(dǎo)率一維分布的測(cè)量方法和裝置，該方法包括步驟一將含有數(shù)十至數(shù)百個(gè)可編程開關(guān)電極的可編程開關(guān)電極帶與待測(cè)導(dǎo)體的表面緊密貼合；通過計(jì)算機(jī)生成伯努力隨機(jī)采樣矩陣，從該矩陣中依次取出行向量；步驟二測(cè)得采樣矩陣中不同行向量對(duì)應(yīng)的電阻值，得出電阻采樣向量；步驟三根據(jù)不同檢測(cè)導(dǎo)體選擇對(duì)應(yīng)的稀疏變換，構(gòu)成超完備字典；步驟四利用恢復(fù)算法對(duì)待測(cè)導(dǎo)體電阻一維分布進(jìn)行重建，利用電阻率計(jì)算公式求得導(dǎo)體電阻率一維分布，再取倒數(shù)得到導(dǎo)體電導(dǎo)率一維分...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。