技術(shù)編號(hào):6222746
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供了一種測(cè)量顆粒粒徑分布的方法及裝置,其中,測(cè)量顆粒粒徑分布的方法包括通過(guò)陣列探測(cè)器測(cè)量顆粒群散射光強(qiáng)的角分布,其中,所述角分布中的離散角度對(duì)應(yīng)所述陣列探測(cè)器的各個(gè)離散探測(cè)像素;選定粒徑區(qū)間及采樣粒徑,根據(jù)所述粒徑區(qū)間和所述采樣粒徑計(jì)算所述采樣粒徑的粒徑參數(shù),并基于Mie散射計(jì)算系數(shù)矩陣;將所述系數(shù)矩陣與所述角分布作為最大似然函數(shù)迭代反演方法的參數(shù),計(jì)算所述顆粒群的最終粒徑分布。本發(fā)明能夠?qū)Φ托旁氡葴y(cè)量數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的粒徑分布反演計(jì)算。專利說(shuō)明測(cè)量顆...
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