技術(shù)編號：6221809
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及液晶型光學(xué)器件相位檢測領(lǐng)域，具體涉及，將移相干涉技術(shù)與相位共軛技術(shù)相結(jié)合，并在移相干涉技術(shù)中將入射光正交偏振分解為一路移相參考臂和一路信號臂從而共光路入射進(jìn)入液晶光學(xué)器件進(jìn)行液晶調(diào)制相位的檢測。本發(fā)明首次將正交移相共軛干涉儀的方法用于液晶型光學(xué)器件的相位檢測，并結(jié)合移相干涉技術(shù)復(fù)原液晶的調(diào)制相位，明顯優(yōu)于一般的調(diào)制相位恢復(fù)的方法。專利說明[0001]本發(fā)明涉及液晶型光學(xué)器件相位檢測領(lǐng)域，具體涉及。背景技術(shù)[0002]在液晶的眾多特性中，液晶電控雙...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。