技術(shù)編號：6219684
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。用于測試器件的方法和測量裝置。本發(fā)明描述了一種用于測試多個電子器件的方法，其具有將多個電子器件分成多個第一組；將多個電子器件分成多個第二組；針對每個第一組，測量第一組的器件的互連的電參數(shù)；針對每個第二組，測量第二組的器件的互連的電參數(shù)；以及基于針對第一組的電參數(shù)測量結(jié)果并且基于針對第二組的電參數(shù)測量結(jié)果來確定所述多個電子器件中哪些電子器件具有預(yù)先給定的特性。專利說明用于測試器件的方法和測量裝置[0001 ] 本發(fā)明一般地涉及用于測試器件的方法和測量裝置。背...
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