技術編號:6218552
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開了一種角分辨微納光譜分析裝置,包括入射光路、反射光路和透射光路。入射光路為裝置提供入射光;反射光路是由樣品反射光形成的光路,用于測量樣品角分辨反射傅里葉信息;透射光路是由樣品透射光形成的光路,用于測量樣品角分辨透射傅里葉信息。本發(fā)明通過獲取樣品反射和透射光譜成像信息,對樣品進行表征,能夠用于微納光子晶體的測量。其中,接收端探測器通過自動化控制電機使光纖探測器能夠接收樣品不同反射角度的光譜信息。專利說明角分辨微納光譜分析裝置[0001][0002]...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。