技術(shù)編號(hào)：6216641
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供了，首先根據(jù)微電極的工作高度，通過固定裝置上帶夾子的鐵圈將栽種有植物的花盆固定，再通過固定裝置上特制鐵夾將待測的植物葉片固定，最后對(duì)固定的植物進(jìn)行高度位置進(jìn)行微調(diào)，即可進(jìn)行原位穿刺。本方法既可以方便測定活體植株上的任一葉片，又可以實(shí)現(xiàn)對(duì)活體植株上同一葉片的長期多次測定，而又不會(huì)破壞活體植株的完整性，具有可以大大提高測定準(zhǔn)確度和精度等優(yōu)點(diǎn)。專利說明—種微電極原位穿刺植株葉片的固定方法[0001]本發(fā)明屬于農(nóng)業(yè)，具體涉及。背景技術(shù)[0002]微電極原...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。