技術(shù)編號：6216376
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明公開了一種光學(xué)材料光譜測試用低溫杜瓦，由內(nèi)外金屬圓筒組成的真空密封容器，在過渡冷頭上依次安裝杜瓦冷頭、測試樣品、力學(xué)緩沖環(huán)和磁性壓環(huán)組成測試樣品固定結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)的優(yōu)點在于充分利用磁性壓環(huán)與杜瓦冷頭之間的磁性力，將測試樣品可靠地固定在杜瓦冷頭上，同時力學(xué)緩沖環(huán)可以很好地緩沖杜瓦冷頭和磁性壓環(huán)之間的磁性力，使杜瓦冷頭和測試樣品形成良好的熱學(xué)和力學(xué)接觸，保持測試樣品處于低溫，該結(jié)構(gòu)安裝和拆卸測試樣品簡單方便，避免測試樣品表面污染和損傷，特別適合于水平光路條...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。