技術(shù)編號(hào)：6192305
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型公布了高溫環(huán)境下光電模塊性能測(cè)試裝置，包括高溫烤箱，在高溫烤箱內(nèi)安裝有內(nèi)部測(cè)試板，還包括外部測(cè)試板，內(nèi)部測(cè)試板與外部測(cè)試板連接，外部測(cè)試板的輸出端傳輸至計(jì)算機(jī)。本實(shí)用新型直接對(duì)整個(gè)光電模塊進(jìn)行加溫實(shí)驗(yàn)，采集光電模塊的5個(gè)關(guān)鍵參數(shù)在溫度變化下的采樣數(shù)據(jù)，對(duì)采樣數(shù)據(jù)利用阿倫尼斯模型進(jìn)行計(jì)算，從而評(píng)估光電模塊在正常情況下的壽命；避免了以LED的壽命來作為光電模塊壽命的不準(zhǔn)確性，且不需要?jiǎng)冸x出LED即可進(jìn)行測(cè)試，方便實(shí)驗(yàn)的成規(guī)模應(yīng)用。專利說明高溫環(huán)境下光...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。