技術(shù)編號(hào)：6190434
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種位移測量方法，尤其是涉及對(duì)位移實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)判斷方向的測量方法。背景技術(shù)納米測量是納米科學(xué)發(fā)展的基礎(chǔ)，而納米科學(xué)主要是研究、發(fā)現(xiàn)和加工結(jié)構(gòu)尺寸小于100納米的材料、器件和系統(tǒng)，以獲得所需要的功能和性能，并已經(jīng)在材料、化學(xué)、生物、能源和醫(yī)藥衛(wèi)生等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。隨著納米時(shí)代的到來，對(duì)納米尺度的產(chǎn)品進(jìn)行檢測的需求日益増大，同時(shí)也對(duì)納米測量技術(shù)提出了更高的要求。納米測量需要在毫米級(jí)的測量范圍內(nèi)達(dá)到納米級(jí)的分辨率，同時(shí)需要綜合考慮環(huán)境條件、系統(tǒng)復(fù)雜程度及...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。