技術(shù)編號：6185946
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于環(huán)境氣溶膠測量，特別涉及一種可測量3nm-20Mffl氣溶膠粒徑分布的儀器。背景技術(shù)近年來人們越來越關(guān)注大氣顆粒物污染，希望獲得大氣顆粒物數(shù)濃度和粒徑分布信息。目前大氣顆粒物數(shù)濃度和粒徑分布的測量主要依靠電學(xué)和光學(xué)技術(shù)，且已有一些商業(yè)化的儀器。但大氣顆粒物粒徑跨度非常寬，從幾納米到幾十微米，導(dǎo)致一種技術(shù)難以實現(xiàn)全粒徑分布譜(即3nm-20ym顆粒物的粒徑分布)的測量?，F(xiàn)有的商業(yè)化儀器在測量大氣顆粒物粒徑分布時只能獲得或納米、或亞微米、或微米范圍內(nèi)...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。