技術(shù)編號(hào)：6182786
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供了一種，包括如下步驟制備檢測(cè)試樣；然后將檢測(cè)試樣放入坩堝一起置于金相加熱爐中，經(jīng)先抽真空后通入氬氣的三次重復(fù)操作后，向金相加熱爐中持續(xù)通入純度大于99.999%的高純氬氣，作為檢測(cè)試樣加熱時(shí)的保護(hù)氣；最后將檢測(cè)試樣先以150℃/min的速度連續(xù)加熱至800℃，并恒溫保持120秒，再以15℃/min的速度連續(xù)加熱至1350℃；在加熱過程中，金相加熱爐上方的高溫激光成像系統(tǒng)以每0.1℃的溫度間隔連續(xù)獲得檢測(cè)試樣的奧氏體晶粒尺寸照片；將奧氏體晶粒開始長...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。