技術(shù)編號(hào)：6173905
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及，該方法包括以下步驟(1)樣品安裝；(2)粘貼導(dǎo)電膠；(3)用硅漂移電制冷X射線能譜探測(cè)器采集元素的能譜面分布圖像。本發(fā)明所述的圖像采集方法，能夠增大元素能譜圖像中化學(xué)組成相近物相的灰度差異，緩解顆粒內(nèi)部像素缺失、顆粒邊緣虛化、圖像整體漂移等現(xiàn)象，縮短圖像采集時(shí)間。該方法有助于降低制樣難度，縮短電鏡觀測(cè)條件優(yōu)化試驗(yàn)所需的時(shí)間，且拍攝過程無需液氮冷卻。專利說明[0001]本發(fā)明涉及材料分析領(lǐng)域，尤其涉及。背景技術(shù)[0002]在無機(jī)非金屬材料的物相組...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。