技術編號：6171937
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及。根據(jù)本發(fā)明的表面異物檢查系統(tǒng)包括在上部面放置被檢物、調(diào)節(jié)所述上部面的高低的平臺部；從所述平臺部隔開、根據(jù)檢查條件照射與所述被檢物的表面平行的檢查用光的光源照射部；可移動地安裝在與所述平臺部在上部方向上隔開的支撐臺、從所述被檢物的表面對散射光進行光接收、對包括所述被檢物的異物信息的圖像信息進行攝影的攝影部；與所述平臺部、光源照射部及攝影部連結，從所述攝影部接收所述圖像信息，檢測表面異物信息的控制部；以及從所述控制部顯示表面異物信息的顯示部。專利說...
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