技術(shù)編號：6171351
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種用于高精度ADC測試中低分辨率信號源的選取方法，其通過對于同一分辨率的信號源，分析增加或減少采樣點(diǎn)數(shù)對測試結(jié)果精確度的影響，并在此基礎(chǔ)上建立采樣點(diǎn)數(shù)同測試結(jié)果之間的關(guān)系模型，以及信號源的分辨率同測試結(jié)果精確度之間的關(guān)系。基于得到的關(guān)系模型，可以確定在給定測試對象和測試目的，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)在對高精度ADC進(jìn)行快速測試、精確測試以及快速精確的低成本測試等目的時(shí)最佳信號源的選擇，在保證測試結(jié)果的同時(shí)降低測試成本。專利說明用于高精度ADC測試中低分辨率信...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲(chǔ)備，不適合論文引用。