技術編號：6170228
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種測繪的方法，尤其涉及，包括如下步驟在測繪區(qū)域設置多個離散的校正點，并獲取校正點坐標；在測繪區(qū)域低空航拍，并獲取航拍照片；取航拍照片側(cè)向建(構）筑物及地表形態(tài)變化根基點影像；對單張步驟c中取得照片影像，結(jié)合校正點坐標參考，進行解析，獲取建(構）筑物及地表形態(tài)變化根基點坐標點；將測繪區(qū)域內(nèi)多張連續(xù)區(qū)域影像重復步驟d方法，并獲取測繪區(qū)域內(nèi)各建(構）筑物及地表形態(tài)變化根基點坐標點，將獲取坐標點進行拼接。與傳統(tǒng)的取航拍照片側(cè)向建(構）筑物及地表形態(tài)變化...
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