技術編號：6168304
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型涉及半導體功率器件測量，尤其涉及一種半導體功率器件熱阻測試裝置。背景技術半導體功率器件在工作過程中常因發(fā)熱使結溫過高導致其損壞，因此非常有必要控制半導體功率器件在工作過程中的結溫，結溫可以通過半導體功率器件的熱阻及殼溫推算得出?，F(xiàn)有技術中熱阻測試儀的設計，一方面是為了客觀地評價半導體功率器件的熱阻，合理設計PCB及散熱元件，使半導體功率器件在工作過程中的結溫不超過安全區(qū)域，保障半導體功率器件的安全正常運行；另一方面，可以評估影響半導體功率器件散熱...
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