技術(shù)編號：6165868
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。系統(tǒng)，包括用于應(yīng)用的至少一個(gè)部件(10)，在應(yīng)用中所述部件經(jīng)受赫茲應(yīng)力或交替的赫茲應(yīng)力或變化的赫茲應(yīng)力合并結(jié)構(gòu)應(yīng)力，以及，至少一個(gè)傳感器(20)，其原位設(shè)置，用于監(jiān)測穿過所述至少一個(gè)部件(10)的至少一部分的原子氫滲透。專利說明[0001]本發(fā)明涉及一種系統(tǒng)和方法，用于監(jiān)測在一種應(yīng)用中的至少一個(gè)部件的環(huán)境弱化，在所述應(yīng)用中該部件經(jīng)受應(yīng)力或交替的赫茲應(yīng)力或組合的結(jié)構(gòu)和赫茲應(yīng)力。背景技術(shù)[0002]根本原因分析是一類解決問題的方法，旨在查明問題或事件的根本原因...
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