技術(shù)編號(hào)：6161033
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。一種光量均衡檢測(cè)方法，適用于包含多個(gè)發(fā)光元件的發(fā)光裝置。首先，置放發(fā)光裝置至光感測(cè)設(shè)備的感光區(qū)域中。接著，執(zhí)行N次下列步驟于第n次執(zhí)行時(shí)，點(diǎn)亮第n+i×N個(gè)發(fā)光元件，其中i為0或正整數(shù)，n小于或等于N，且n與N為正整數(shù)，并以光感測(cè)設(shè)備檢測(cè)發(fā)光元件的發(fā)光而產(chǎn)生掃描影像。最后，比較由前述N次步驟所產(chǎn)生的掃描影像中對(duì)應(yīng)發(fā)光元件的亮點(diǎn)是否一致，并輸出表示發(fā)光裝置為正常品或不良品的輸出信號(hào)。專利說明[0001]本發(fā)明涉及一種光量檢測(cè)方法，特別涉及一種。背景技術(shù)[00...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。