技術(shù)編號(hào)：6160053
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明是一種針對(duì)帶電粒子束發(fā)生和應(yīng)用領(lǐng)域真空設(shè)備中帶電粒子束（團(tuán)）的三維空間結(jié)構(gòu)成像探測(cè)方法。該方法采用微通道板（MCP）和熒光屏組成成像探測(cè)單元，通過(guò)步進(jìn)電機(jī)控制成像探測(cè)單元在帶電粒子束的飛行路線(xiàn)上前后移動(dòng)，通過(guò)記錄一定時(shí)間內(nèi)到達(dá)成像探測(cè)器前表面的帶電粒子數(shù)量及其二維分布情況，實(shí)現(xiàn)對(duì)帶電粒子束截面的成像探測(cè)。通過(guò)在MCP上加直流脈沖電壓，可以得到帶電粒子束的時(shí)間切片成像，獲得短時(shí)間（最短可至10ns級(jí)）內(nèi)的帶電粒子變化情況；通過(guò)對(duì)切片圖像的還原重構(gòu)，可以...
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