技術(shù)編號：6156815
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電導(dǎo)率的測量技術(shù)，具體是一種可用于醫(yī)學(xué)影像診斷或工業(yè)探傷的基于亥姆霍茲線圈的電導(dǎo)率無損測量系統(tǒng)。 背景技術(shù)檢測產(chǎn)品技術(shù)的好壞和物體內(nèi)部的異常變化有很多方法，但歸納起來不外乎是二 大類其一是破壞法，其二是無損檢測法。破壞法即是破開被檢對象，檢查其內(nèi)部或表面質(zhì) 量的方法。雖然這種方法準(zhǔn)確性很高，比較直觀；但是在大多數(shù)情況下是行不通的進(jìn)行生 產(chǎn)制造的目的，就是為了得到成品，不可能為了檢查其質(zhì)量的好壞，就做一個破壞一個；大 部分被測物體不允許分解和破壞，...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。