技術編號：6155454
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及于一種共光程外差干涉術，更特別涉及一種測量各向異性物質(zhì)的物理 參數(shù)的外差干涉術。背景技術有許多種用來做光學及非接觸式測量的干涉術及干涉儀，然而大部分的干涉術或 干涉儀并非為共光程的結(jié)構(gòu)。一般來說，非共光程的結(jié)構(gòu)具有下列的問題(1)在非共光程的結(jié)構(gòu)中，參考光束與測試光束之間的光程差必須是在相干長度 內(nèi)。此外，當光程差增加時，干涉信號的對比將會減小。(2)在非共光程的結(jié)構(gòu)中，兩個光束的環(huán)境應該要嚴格地控制。舉例來說，氣流的 擾動以及外部的振動應該要避...
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